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感应耦合等离子体刻蚀系统

来源:Institute of LQM      作者:吴沁柯    发布:2026-03-12    点击量:

  • 型号(GSE-C200),厂家(NAURA),位置(超净间)

   超级用户(陆晶晶 / 吴沁科),联系方式(15377533309 / 微信:miaomer_777;18428381656 / 微信:wuqinke122832)

  • 简介该设备为高性能反应离子刻蚀系统(ICP-RIE Etcher),专用于SiO₂、SiN等绝缘材料的微纳加工。主要应用于先进逻辑芯片、存储芯片及异质集成器件制造,可实现高深宽比结构刻蚀与高精度图形转移,适用于FinFET/GAA器件栅间隔层刻蚀、3D NAND通道刻蚀及TSV绝缘层加工等工艺。

  • 具体参数

            晶圆尺寸:≤8英寸

            气路系统:8路气体(Ar、O₂、CF₄、SF₆、CHF₃、He、C₄F₆、N₂或Cl₂)

            刻蚀材料:SiO₂、SiN、聚合物、III-V族材料等

            RF射频电源:

                        上电极:13.56 MHz,1500 W

                        下电极:13.56 MHz,300 W

            刻蚀均匀性:±5%



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