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霍尔效应测试系统

来源:Institute of LQM      作者:宋兴娟    发布:2026-03-12    点击量:

  • 型号(M91 FastHall),厂家(Lake Shore Cryotronics),位置(器件实验室2)

 超级用户(宋兴娟),联系方式(15536296299 / 微信:juan921217826)

  • 简介该系统为霍尔条形结构电输运测量平台,可在温度与磁场精确控制条件下,测量材料的电学输运性质,包括电阻率、霍尔系数、载流子浓度与迁移率等。系统支持Hall bar与van der Pauw几何结构,适用于半导体、低维材料及自旋电子学器件的快速电学表征。

  • 具体参数

                制冷方式:闭循环低温制冷系统

                温度范围:10 K – 470 K

                温度稳定性:≤ ±50 mK(10 K – 470 K范围内)

                最大磁场:≥ ±2.5 T

                最大可测电阻(霍尔测试):≥ 100 GΩ

                霍尔效应测量时间:≤ 10 s

                电流源范围:1 μA – 100 mA

                电压测量范围:1 mV – 10 V

                载流子迁移率测量下限:~0.001 cm²/(V·s)

                载流子浓度测量范围:8 – 800 × 10²³ cm⁻³




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