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结构分析设备
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原子力显微镜(AFM) 2 (Enviornment)

来源:Institute of LQM      作者:吴沁柯    发布:2026-03-12    点击量:

  • 型号 (SPM-9700HT) 、厂家(SHIMADZU)、位置(结构表征室 1)

    超级用户 (赵云), 联系方式 (13316825675/微信 ID: zhaoyun19900716)

  • 简介: 环境型原子力显微镜(Environmental Atomic Force Microscope, AFM)是一种可在空气及真空环境下进行微纳尺度表面形貌与物性表征的扫描探针显微系统。通过探针与样品表面之间的相互作用力,实现对材料局域结构与物理性质的高分辨成像与分析。

  • 具体参数

    温度控制范围:-120 ℃ ~ 300 ℃

    真空环境能力:可达 10⁻² Pa

    磁力显微镜(Magnetic Force Microscopy, MFM)

    导电原子力显微镜(Conductive AFM, C-AFM)

    横向力显微镜(Lateral Force Microscopy, LFM)

    接触/非接触模式成像(Contact & Non-contact Mapping)

    压电响应力显微镜(Piezoresponse Force Microscopy, PFM)

    纳米加工/纳米光刻(Nanolithography)

    开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscopy, KPFM)

    扫描麦克斯韦应力显微镜(Scanning Maxwell Stress Microscopy, SMM)


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